Toggle navigation
norsk
English
norsk
norsk
English
Logg inn
Toggle navigation
Vis innførsel
Hjem
Institutt for energiteknikk
Publikasjoner fra CRIStin
Vis innførsel
Hjem
Institutt for energiteknikk
Publikasjoner fra CRIStin
Vis innførsel
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Hydrogen-related defects measured by infrared spectroscopy in multicrystalline silicon wafers throughout an illuminated annealing process
Weiser, Philip Michael
;
Monakhov, Eduard
;
Haug, Halvard
;
Wiig, Marie Syre
;
Søndenå, Rune
Peer reviewed, Journal article
Published version
Åpne
J.Appl.Phys.2020_Weiser_et_al.pdf (1.697Mb)
Permanent lenke
https://hdl.handle.net/11250/2646890
Utgivelsesdato
2020
Metadata
Vis full innførsel
Samlinger
Publikasjoner fra CRIStin
[843]
Vitenskapelige publikasjoner / Scientific publications
[733]
Originalversjon
Journal of Applied Physics. 2020, 127 (6), .
10.1063/1.5142476
Tidsskrift
Journal of Applied Physics
Opphavsrett
© 2020 Author(s).
Hele arkivet
Denne samlingen
Bla i
Hele arkivet
Delarkiv og samlinger
Utgivelsesdato
Forfattere
Titler
Emneord
Dokumenttyper
Tidsskrifter
Denne samlingen
Utgivelsesdato
Forfattere
Titler
Emneord
Dokumenttyper
Tidsskrifter
Min side
Logg inn
Statistikk
Besøksstatistikk