Toggle navigation
norsk
English
norsk
norsk
English
Logg inn
Toggle navigation
Vis innførsel
Hjem
Institutt for energiteknikk
Publikasjoner fra CRIStin
Vis innførsel
Hjem
Institutt for energiteknikk
Publikasjoner fra CRIStin
Vis innførsel
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Investigation of veryintenseD3-band emission in multi-crystalline silicon wafers using electron microscopy and hyperspectral photoluminescence imaging
Thøgersen, Annett
;
Jensen, Ingvild Julie Thue
;
Graff, Joachim Seland
;
Ringdalen, Inga Gudem
;
Almeida Carvalho, Patricia
;
Mehl, Torbjørn
;
Zhu, Junjie
;
Burud, Ingunn
;
Olsen, Espen
;
Søndenå, Rune
Peer reviewed, Journal article
Published version
Åpne
Th%C3%B8gersen2022.pdf (4.673Mb)
Permanent lenke
https://hdl.handle.net/11250/2999270
Utgivelsesdato
2022
Metadata
Vis full innførsel
Samlinger
Publikasjoner fra CRIStin
[845]
Vitenskapelige publikasjoner / Scientific publications
[735]
Originalversjon
https://doi.org/10.1063/5.0087119
Tidsskrift
Journal of Applied Physics
Opphavsrett
© 2022 Author(s).
Med mindre annet er angitt, så er denne innførselen lisensiert som Navngivelse 4.0 Internasjonal
Hele arkivet
Denne samlingen
Bla i
Hele arkivet
Delarkiv og samlinger
Utgivelsesdato
Forfattere
Titler
Emneord
Dokumenttyper
Tidsskrifter
Denne samlingen
Utgivelsesdato
Forfattere
Titler
Emneord
Dokumenttyper
Tidsskrifter
Min side
Logg inn
Statistikk
Besøksstatistikk