Vis enkel innførsel

dc.contributor.authorMarstein, Erik Stensrud
dc.contributor.authorHasle, Ida Margrete
dc.contributor.authorQviller, Atle Jorstad
dc.contributor.authorHaug, Halvard
dc.date.accessioned2015-03-03T11:45:20Z
dc.date.accessioned2015-03-04T09:45:12Z
dc.date.available2015-03-03T11:45:20Z
dc.date.available2015-03-04T09:45:12Z
dc.date.issued2014
dc.identifier.citationEnergy Procedia 2014, 55:813-817nb_NO
dc.identifier.issn1876-6102
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11250/278369
dc.description-nb_NO
dc.language.isoengnb_NO
dc.rightsNavngivelse-Ikkekommersiell-IngenBearbeidelse 3.0 Norge*
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/no/*
dc.titleNeutron and x-ray Reflectometry Investigations of Amorphous Silicon-based Surface Passivation Layersnb_NO
dc.typeJournal articlenb_NO
dc.typePeer reviewednb_NO
dc.date.updated2015-03-03T11:45:20Z
dc.source.journalEnergy Procedianb_NO
dc.identifier.doi10.1016/j.egypro.2014.08.064
dc.identifier.cristin1225388


Tilhørende fil(er)

Thumbnail

Denne innførselen finnes i følgende samling(er)

Vis enkel innførsel

Navngivelse-Ikkekommersiell-IngenBearbeidelse 3.0 Norge
Med mindre annet er angitt, så er denne innførselen lisensiert som Navngivelse-Ikkekommersiell-IngenBearbeidelse 3.0 Norge