Toggle navigation
norsk
English
norsk
norsk
English
Logg inn
Toggle navigation
Vis innførsel
Hjem
Institutt for energiteknikk
Publikasjoner fra CRIStin
Vis innførsel
Hjem
Institutt for energiteknikk
Publikasjoner fra CRIStin
Vis innførsel
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Direct monitoring of minority carrier density during light induced degradation in Czochralski silicon by photoluminescence imaging
Nærland, Tine Uberg
;
Angelskår, Hallvard
;
Marstein, Erik Stensrud
Journal article, Peer reviewed
Accepted version
Åpne
Postprint (758.8Kb)
Permanent lenke
http://hdl.handle.net/11250/2452033
Utgivelsesdato
2013
Metadata
Vis full innførsel
Samlinger
Publikasjoner fra CRIStin
[843]
Vitenskapelige publikasjoner / Scientific publications
[733]
Originalversjon
Journal of Applied Physics. 2013, 113 (19), .
10.1063/1.4806999
Tidsskrift
Journal of Applied Physics
Opphavsrett
© 2013 AIP Publishing LLC.
Hele arkivet
Denne samlingen
Bla i
Hele arkivet
Delarkiv og samlinger
Utgivelsesdato
Forfattere
Titler
Emneord
Dokumenttyper
Tidsskrifter
Denne samlingen
Utgivelsesdato
Forfattere
Titler
Emneord
Dokumenttyper
Tidsskrifter
Min side
Logg inn
Statistikk
Besøksstatistikk